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基于X射线图像的LED芯片邦定线断裂缺陷的自动检测方法研究

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  • 【题名】:基于X射线图像的LED芯片邦定线断裂缺陷的自动检测方法研究
  • 【年份】:2021
  • 【作者】:王言,卢军
  • 【关键词】:邦定线断裂检测  图像分割  漫水填充  拉普拉斯算子
  • 【摘要】:在使用工业X射线设备检测LED芯片邦定线的邦定质量时,为了自动检测出邦定线是否断裂,提出采用自适应阈值分割与漫水填充相结合的方法。步骤如下:首先根据邦定线在X射线图像中的特点,采用自适应阈值分割出邦定线焊点所在位置,并识别其质心;再对原始射线图像采用拉普拉斯算子进行图像锐化,增强图像的灰度跳变部分;然后以焊点质心为种子点,采用漫水填充法完整分割出邦定线;最终根据分割出的连通域与焊点质心的包含关系判断出邦定线断裂的情况。
  • 【期刊名】:计算机时代
  • 【分类号】:TP391.41;TN407
  • 【期号】:第1期
  • 【资金项目】:陕西省科技厅工业攻关项目(2016GY-049)
  • 【作者简介】:王言(1996-),男,陕西西安人,硕士,主要研究方向为:机器视觉。
  • 【作者单位】:陕西科技大学机电工程学院
  • 【页码】:21-24
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