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2020第八届国际测试自动化与仪器仪表学术会议征稿通知(ISTAI’2020)

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  • 【题名】:2020第八届国际测试自动化与仪器仪表学术会议征稿通知(ISTAI’2020)
  • 【年份】:2020
  • 【摘要】:由中国仪器仪表学会和北京信息科技大学联合主办的"2020第八届国际测试自动化与仪器仪表学术会议"将于2020年11月举办。会议旨在为自动化测试与仪器领域的专家学者、科研人员、技术工程师搭建了解测试测量领域国际前沿技术的平台,会议主题:"智慧感知、共享决策、智能控制、个性服务",以信息化、智能化助推自动化技术发展,研讨面向工业4.0和互联网+的新一代智能测控技术,增强国内学术界、产业界同国际同行间的交流和合作。届时来自世界各地的代表们将欢聚一堂,探讨本领域科技创新、行业发展趋势、热点技术应用、交流学术成果,增进相互间的了解和沟通。
  • 【期刊名】:国外电子测量技术
  • 【期号】:第5期
  • 【页码】:7
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