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大规模集成电路测试程序开发技术及流程应用

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  • 【题名】:大规模集成电路测试程序开发技术及流程应用
  • 【年份】:2017
  • 【作者】:章慧彬,朱江
  • 【关键词】:集成电路测试程序  ATE  参数测试  功能测试
  • 【摘要】:集成电路测试就是对集成电路进行好坏的判断,通过测量对集成电路的输出响应和预期输出进行比较,以确定或评估集成电路功能和性能的过程。而基于ATE开发完整、稳定、可靠的测试程序,是实现对大规模集成电路自动化快速在线检测最通用、最有效的手段,因此集成电路测试程序开发技术就显得非常重要。
  • 【期刊名】:电子与封装
  • 【分类号】:TN407
  • 【期号】:第6期
  • 【作者单位】:中国电子科技集团公司第58研究所
  • 【页码】:10-15
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